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IC測(cè)試鍵（Test Key）是集成電路（IC）測(cè)試中的重要概念。IC測(cè)試鍵可以看作是芯片設(shè)計(jì)中的“窗口”或“探針點(diǎn)”，這些特定位置的電路接口，能夠讓你在制造或測(cè)試階段“窺探”芯片內(nèi)部的運(yùn)作情況。它們主要是用于測(cè)量和驗(yàn)證芯片性能和可靠性的電氣點(diǎn)。測(cè)試鍵的設(shè)計(jì)和布局通常根據(jù)芯片的功能、結(jié)構(gòu)、以及制造工藝的需要進(jìn)行調(diào)整。

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12小時(shí)前

IC測(cè)試

Aigtek功率放大器的技術(shù)指標(biāo)和原理詳細(xì)介紹

　　功率放大器是電子領(lǐng)域中一類重要的設(shè)備，其作用是將輸入信號(hào)的功率放大到更高的水平。在不同應(yīng)用場(chǎng)景中，功率放大器的技術(shù)指標(biāo)和原理都扮演著關(guān)鍵的角色。　　一、技術(shù)指標(biāo)：　　增益：　　功率放大器的增益是指輸出信號(hào)與輸入信號(hào)功率之比。常用單位是分貝（dB）。增益的高低決定了放大器放大輸入信號(hào)的能力，一般來說，較高的增益意味著更大的輸出信號(hào)?！　挘骸　捠侵冈谄涔ぷ黝l率范圍內(nèi)，功率放大器能夠有效放大

Aigtek安泰電子

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16小時(shí)前

功率放大器

安泰功率放大器的用途是什么

　　功率放大器是電子系統(tǒng)中至關(guān)重要的組件之一，其作用是將輸入信號(hào)的功率加以放大。這一過程涵蓋了許多應(yīng)用領(lǐng)域，從音頻系統(tǒng)到通信設(shè)備，再到醫(yī)療設(shè)備和工業(yè)自動(dòng)化。本文將介紹功率放大器的用途，以及它們?cè)诓煌I(lǐng)域中的關(guān)鍵作用。　　1.音頻系統(tǒng)中的應(yīng)用：　　功率放大器在音頻系統(tǒng)中是不可或缺的組件。它們用于放大音頻信號(hào)，以便能夠驅(qū)動(dòng)揚(yáng)聲器產(chǎn)生高質(zhì)量的聲音。音響系統(tǒng)、音樂播放器以及家庭影院系統(tǒng)都依賴于功率放大器，

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17小時(shí)前

功率放大器

【“源”察秋毫系列】Keithley在碳納米管森林涂層纖維復(fù)合材料的應(yīng)用

碳納米管森林由許多垂直生長(zhǎng)的碳納米管組成，看起來像一個(gè)“森林”，因此得名。每個(gè)碳納米管（CNT）是由單層或多層石墨烯片卷曲形成的圓筒結(jié)構(gòu)，其直徑在納米級(jí)別，長(zhǎng)度可以達(dá)到數(shù)微米甚至數(shù)毫米。碳納米管森林中的這些納米管密集排列，垂直生長(zhǎng)于基底上。碳納米管涂層纖維的特點(diǎn) 高比表面積：碳納米管森林有巨大的表面積，有助于提高催化、傳感、儲(chǔ)能等方面的性能。優(yōu)異的力學(xué)性能：碳納米管具有極高的強(qiáng)度和韌性。電學(xué)

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20小時(shí)前

傳感器顯示器

CP測(cè)試與FT測(cè)試的區(qū)別

在集成電路（IC）制造與測(cè)試過程中，CP（Chip Probing，晶圓探針測(cè)試）和FT（Final Test，最終測(cè)試）是兩個(gè)重要的環(huán)節(jié)，它們承擔(dān)了不同的任務(wù)，使用不同的設(shè)備和方法，但都是為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。

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20小時(shí)前

晶圓測(cè)試

深圳南柯電子｜EMC測(cè)試整改：確保產(chǎn)品電磁兼容性的關(guān)鍵步驟

在當(dāng)今電子產(chǎn)品日新月異的時(shí)代，電磁兼容性（EMC）已成為衡量設(shè)備質(zhì)量與性能的重要指標(biāo)之一。EMC測(cè)試旨在驗(yàn)證電子產(chǎn)品在電磁環(huán)境中的正常運(yùn)行能力，同時(shí)不對(duì)周圍設(shè)備產(chǎn)生不可接受的電磁干擾。然而，面對(duì)日益嚴(yán)格的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和市場(chǎng)需求，許多產(chǎn)品在初次EMC測(cè)試中難以達(dá)標(biāo)，這就需要進(jìn)行EMC測(cè)試整改。

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21小時(shí)前

EMC 電磁兼容

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