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ATE測(cè)試和DFT可測(cè)性設(shè)計(jì)，二者對(duì)芯片測(cè)試都至關(guān)重要，且彼此之間也有千絲萬縷的聯(lián)系。有好多ATE測(cè)試工程師來咨詢?nèi)绾无D(zhuǎn)崗到DFT。
今天就來講講這兩個(gè)崗位。
我們知道一顆芯片的誕生需要經(jīng)歷芯片設(shè)計(jì)→芯片制造→芯片封測(cè)等關(guān)鍵環(huán)節(jié)。測(cè)試是芯片誕生的尾聲部分，主要用來確保芯片的功能性、穩(wěn)定性和可靠性。
如果在某層測(cè)試上漏掉了一顆有故障的芯片，就可能需要在下一層測(cè)試上花費(fèi)10倍的物力、人力、時(shí)間成本才能發(fā)現(xiàn)。
這就需要在不同環(huán)節(jié)，通過不同手段來確保芯片的良率。
01、先講崗位
ATE測(cè)試，就是基于ATE測(cè)試機(jī)臺(tái)/設(shè)備開發(fā)芯片測(cè)試程序，簡單來說——通過代碼讓測(cè)試機(jī)按照規(guī)定來驗(yàn)證芯片的好壞，挑出有制造缺陷的芯片并淘汰掉，留下沒有制造缺陷的好芯片。
DFT設(shè)計(jì)，對(duì)于芯片測(cè)試來說實(shí)際上是一個(gè)未雨綢繆的“前置環(huán)節(jié)”——在滿足芯片正常功能的基礎(chǔ)上，加入可測(cè)性邏輯，等芯片制造出來，在ATE設(shè)備上通過可測(cè)性邏輯對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試。
DFT是面向測(cè)試的設(shè)計(jì)，屬于芯片設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)。這是一個(gè)越在大廠越重要的角色，目前國內(nèi)IC設(shè)計(jì)公司但凡是有些規(guī)?；蛘咚霎a(chǎn)品需要一定產(chǎn)量，都會(huì)設(shè)置DFT崗。
而ATE屬于測(cè)試環(huán)節(jié)，市場需求相對(duì)更廣泛，芯片設(shè)計(jì)公司、測(cè)試機(jī)制造商、晶圓制造廠和封裝測(cè)試廠對(duì)于ATE測(cè)試崗位都有招聘需求。
02、再說工作內(nèi)容
之前寫過數(shù)字設(shè)計(jì)和功能驗(yàn)證崗位的區(qū)別，這是兩個(gè)配合度比較高的崗位。ATE和DFT之間同樣是兩個(gè)互相配合的崗位，但工作內(nèi)容卻相差比較大。
芯片內(nèi)部往往都自帶測(cè)試電路，DFT的工作就是在設(shè)計(jì)的時(shí)候就解決流片后測(cè)試環(huán)節(jié)的一部分問題，提高芯片流片之后的可測(cè)試性，很大程度上能夠降低測(cè)試的金錢以及時(shí)間成本。
參與芯片DFT架構(gòu)定義和設(shè)計(jì)。
完成DFT電路設(shè)計(jì)，包括Scan、Mbist、Bscan等。
協(xié)助后端團(tuán)隊(duì)處理DFT相關(guān)的時(shí)序分析和timing收斂工作。
使用EDA工具生成測(cè)試向量，并且進(jìn)行仿真驗(yàn)證。
參與ATE，debug 測(cè)試failure。
ATE比較依賴于測(cè)試機(jī)臺(tái)（芯片生產(chǎn)完成之后檢測(cè)芯片缺陷的設(shè)備），ATE測(cè)試工程師要做的就是使用ATE測(cè)試機(jī)完成芯片產(chǎn)品的測(cè)試。
負(fù)責(zé)芯片功能、性能和可靠性測(cè)試。
制定芯片測(cè)試方案、計(jì)劃及測(cè)試環(huán)境搭建。
調(diào)試測(cè)試程序。
撰寫測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試報(bào)告。
ATE和DFT的工作需要相互配合、相輔相成，從DFT的全稱Design for test中就可見一斑了。DFT的一些崗位JD中也要求工程師配合測(cè)試團(tuán)隊(duì)完成芯片ATE測(cè)試和良率分析等工作。
03、技能要求的區(qū)別
無論是理論知識(shí)儲(chǔ)備也好，還是軟硬件技能掌握也好，都是從事IC端崗位的必要條件。
DFT
學(xué)歷專業(yè)要求：本科及以上學(xué)歷，微電子、集成電路、電信、自動(dòng)化、電子類等相關(guān)專業(yè)。（對(duì)本科學(xué)歷比較友好，實(shí)際招聘中本科學(xué)歷占比64.9%）
基礎(chǔ)知識(shí)要求：數(shù)電模電、數(shù)集模集等理論基礎(chǔ)知識(shí)；對(duì)SCAN、BIST、JTAG等知識(shí)有深刻理解。
軟件技能要求：熟練掌握Shell/TCL/Perl/Python等腳本語言；熟練使用Synopsys DFT Compiler/DFTMUX、Mentor Tessent等EDA工具以及Verilog。
ATE
學(xué)歷專業(yè)要求：本科及以上學(xué)歷，微電子、集成電路、電信、自動(dòng)化、電子類等相關(guān)專業(yè)。（對(duì)本科學(xué)歷比較友好，實(shí)際招聘中本科學(xué)歷占比64.9%）
基礎(chǔ)知識(shí)要求：對(duì)數(shù)字/混合/模擬/RF各類型集成電路有一定認(rèn)識(shí)；擁有芯片測(cè)試原理的理論知識(shí)儲(chǔ)備；了解CPU/GPU，對(duì)通用接口/高速接口有一定了解。
軟件技能要求：對(duì)ATE測(cè)試機(jī)熟練操作，掌握ATE測(cè)試機(jī)的編程環(huán)境；熟悉C/C++/VB，有基本的編程經(jīng)驗(yàn)。
硬件技能要求：掌握loadboard /probe card的制作過程，掌握基本layout技能。
04、薪資及前景
如果不考慮地區(qū)、企業(yè)等差異看綜合水平的話，DFT和ATE的崗位薪資水平大差不差，基本都是20W起步。這里給大家羅列幾個(gè)校招案例，僅供參考。
DFT崗位
·?某民企base上海，211碩薪資21.5*14，另有3W股票。
·?某民企base成都，985碩18.3*16，算上其他福利和補(bǔ)貼，年包34W左右。
ATE測(cè)試崗
·?某民企base上海，985碩年包25.6W，其他福利和補(bǔ)貼不詳。
·?某國企base無錫，碩士薪資9.2*18-20，公積金12%，另有餐補(bǔ)和加班費(fèi)，具體金額不詳。
薪資方面相差并不大，所以這個(gè)因素反而成為了不太重要的參考項(xiàng)，所以可以再從長期發(fā)展和崗位天花板的角度來考慮。
ATE崗位入行門檻和上手難度更低，對(duì)于學(xué)歷背景不那么過硬的同學(xué)來說會(huì)更友好；DFT崗位的門檻和上限都要更高，前些年我們對(duì)DFT并不算重視，近些年才逐漸進(jìn)入高端線，所以現(xiàn)在的DFT工程師比較稀缺。
有一部分同學(xué)擔(dān)心ATE崗位依賴測(cè)試機(jī)臺(tái)之后會(huì)被機(jī)器/AI所取代。機(jī)臺(tái)的精度雖高，但無論發(fā)展到什么階段，都需要人判斷芯片參數(shù)規(guī)格，需要人工寫程序，機(jī)臺(tái)不可能脫離人去操作，所以完全不用擔(dān)心被替代。
總而言之，ATE和DFT在芯片測(cè)試中有相互依賴性，但崗位職責(zé)卻不同。
到目前為止高校依然沒有針ATE、DFT崗位的相關(guān)課程。ATE工程師就是靠用人單位自主培訓(xùn)，DFT也所以不存在一畢業(yè)就能直接干DFT崗位的科班生，要么是企業(yè)內(nèi)部培養(yǎng)，要么是其他崗位工程師轉(zhuǎn)崗。
如果諸君需要了解ATE或DFT課程或參加相關(guān)培訓(xùn)，歡迎來咨詢IC修真院。
學(xué)習(xí)之路上，IC修真院與你同行。
