74系列數(shù)字集成芯片測試儀（程序、參考電路等）

一、任務(wù)

設(shè)計制作一個集成電路芯片測試儀，能對常用的74系列邏輯芯片進(jìn)行邏輯功能測試，以確定芯片的好壞和型號。

二、要求

1.基本要求

（1）通過鍵盤輸入型號，可以對74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十種組合邏輯芯片進(jìn)行邏輯功能測試，確定其功能正確性；

（2）通過鍵盤輸入管腿特性，可以確定上述74系列的組合邏輯芯片的型號；

（3）顯示上述芯片的邏輯符號和邏輯表達(dá)式。

2.發(fā)揮部分

將上述三項基本要求擴展到74系列時序電路：74/109/160/245等。

（1）通過鍵盤輸入型號，可以對74系列的74/109/160/245等芯片進(jìn)行邏輯功能測試，確定其功能正確性；

（2）通過鍵盤輸入管腿特性，可以確定上述74系列時序邏輯芯片的型號；

（3）顯示上述芯片的邏輯符號和狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖；

（4）其它特色與創(chuàng)新。

74系列的數(shù)字集成芯片測試儀程序源碼截圖：

代碼說明：可以測試大多數(shù)74系列芯片，12864顯示，可以測試芯片通道好壞情況，在自己的開發(fā)板上調(diào)試通過，有注釋