ESD測(cè)試

ESD測(cè)試是指對(duì)電子元器件、設(shè)備或系統(tǒng)等進(jìn)行靜電放電抗性測(cè)試的過程，其目的是確認(rèn)被測(cè)試物品是否能抵御靜電放電而不受損害。靜電放電（ESD）是指由于摩擦、電離、靜電場(chǎng)等原因?qū)е碌碾姾稍?a class="article-link" target="_blank" href="/baike/524522.html">電介質(zhì)上瞬間放電的現(xiàn)象。

1.ESD測(cè)試類型

ESD測(cè)試類型包括人體模擬放電測(cè)試（HBM）、直接放電測(cè)試（DM）、電容放電測(cè)試（CDM）等。其中，人體模擬放電測(cè)試是最常用和最具代表性的ESD測(cè)試類型，使用標(biāo)準(zhǔn)的100 pF / 1500 Ω人體模型發(fā)生器來模擬人體作為ESD來源情況下的放電事件。

2.ESD測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

ESD測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)通常由國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）、美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)（ANSI）、美國(guó)電氣和電子工程師學(xué)會(huì)（IEEE）等制定。例如，IEC 61000-4-2、ANSI/ESD S20.20等標(biāo)準(zhǔn)都是針對(duì)ESD測(cè)試而發(fā)布的。

3.ESD測(cè)試方式

ESD測(cè)試方式通常采用ESD模擬器來實(shí)現(xiàn)。ESD模擬器能夠模擬各種類型及級(jí)別的ESD事件，其規(guī)定的模擬參數(shù)包括放電電流、放電電壓、施加方式、放電極間距等。

4.ESD測(cè)試適用行業(yè)

ESD測(cè)試適用于各種電子元器件、設(shè)備和系統(tǒng)等制造、設(shè)計(jì)、維護(hù)領(lǐng)域，例如半導(dǎo)體、集成電路、電視機(jī)、計(jì)算機(jī)、手機(jī)等。在這些領(lǐng)域中，ESD測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段之一，有助于預(yù)防靜電放電對(duì)電子產(chǎn)品造成的損害和故障。