631
觸控按鍵產(chǎn)品應(yīng)用推陳出新，終端產(chǎn)品朝向智能化趨勢發(fā)展，市場邁入高速成長階段，合泰半導(dǎo)體（HOLTEK）全新推出資源更豐富、效能更高的5V寬電壓Arm? Cortex?-M0+ 觸控單片機(jī)HT32F542xx系列，型號為HT32F54231、HT32F54241、HT32F54243、HT32F54253，頻率最高可達(dá)60MHz，提供最多28個觸控鍵，適合用于智能家電、數(shù)字電子鎖、工業(yè)控制等市場。
此系列單片機(jī)除了帶有更穩(wěn)定及可靠的電容式觸控引擎核心硬件外，同時具備USART/UART/SPI/I2C等標(biāo)準(zhǔn)通信接口，讓設(shè)計者易于連接各類傳感器、無線模塊等來擴(kuò)展產(chǎn)品功能，進(jìn)而開發(fā)各類智能型家用電器及物聯(lián)網(wǎng)終端設(shè)備。
HOLTEK新推出32-bit Arm? Cortex?-M0+ 單片機(jī) (合泰)
觸控按鍵感應(yīng)依原理大致可區(qū)分為：電阻式、電感式、電容式、紅外線式、表面聲波式等，目前市場主要以電容式為主。終端應(yīng)用產(chǎn)品除了要實現(xiàn)觸控功能，同時做到穩(wěn)定及符合EMC規(guī)范、則是技術(shù)上的挑戰(zhàn)。合泰協(xié)助客戶在觸控按鍵應(yīng)用的開發(fā)初期，先建立正確的測試程序，避免掉潛在性能問題隨貨銷售而導(dǎo)致客訴，諸如AC供電或各種環(huán)境下遭遇的電源高頻干擾、潮濕、水氣等，都極易造成觸控按鍵誤動作或失效現(xiàn)象。
影響觸控穩(wěn)定性的原因及完善的測試方法：
常見干擾源
常見干擾：電壓波動、溫度/濕度變化、電磁干擾（RF天線、對講機(jī)等）、電源干擾（電機(jī)啟動、日光燈啟動）等，都有可能引起觸控不穩(wěn)定。
完善的測試
以下測試方法基本可以營造出一般電子設(shè)備的使用環(huán)境，只要通過這些項目的測試，設(shè)計出來的觸控產(chǎn)品都是相對穩(wěn)定可靠的。
1.功能測試：操作觸控按鍵的過程，同時將工作電壓從高調(diào)到低，再從低調(diào)到高反復(fù)做測試。
2.潮濕環(huán)境測試：利用水蒸氣讓待測的觸控面板上結(jié)滿露水，或者把觸控面板靠近空調(diào)出風(fēng)口，濕度越高電容值越高，相反地，濕度越低則電容值越低。
3.溫度測試：用烘箱或熱風(fēng)加熱，放入冰箱或冰柜制冷測試，設(shè)備充足的情況下還可以用專業(yè)的溫度箱測試。
4.電源干擾測試：測試EFT脈沖群抗擾度，標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-4、GB/T 17626.4，測試射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度：標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-6、GB/T 17626.6。
5.空間輻射測試：測試射頻電磁場輻射抗擾度試驗，標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-3、GB/T 17626.3，測試場強(qiáng)在3~10V/m之間。
6.ESD測試：標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2、GB/T 17626.6。
合泰半導(dǎo)體（HOLTEK）自2006年開始研發(fā)設(shè)計觸控按鍵IC，基于提供客戶全面且專業(yè)的技術(shù)服務(wù)，于2008年成立「優(yōu)方科技」，雙方共同致力于觸控感應(yīng)解決方案的研究與發(fā)展，迄今積累十多年經(jīng)驗，每年協(xié)助客戶量產(chǎn)數(shù)量多達(dá)2億臺。2022年全新推出32-bit HT32F542xx系列的觸控單片機(jī)，期望未來在觸控應(yīng)用市場中，提供客戶從快速導(dǎo)入開發(fā)設(shè)計、終至成品量產(chǎn)出貨的專業(yè)技術(shù)服務(wù)及完整解決方案。
