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汽車芯片漫談之Serdes芯片與測(cè)試

07/24 12:40
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上一期,《汽車芯片標(biāo)準(zhǔn)體系建設(shè)指南》技術(shù)解讀與功率芯片測(cè)量概覽中,我們給大家介紹了工信部印發(fā)的《汽車芯片標(biāo)準(zhǔn)體系建設(shè)指南》涉及到的重點(diǎn)芯片與測(cè)試領(lǐng)域解讀,本期繼續(xù)給大家做延展,我們解讀的是MIPI A-PHY與車載Serdes芯片技術(shù)與測(cè)試。

車載Serdes芯片的重要性

汽車智能駕駛時(shí)代,特別是輔助駕駛/自動(dòng)駕駛的普及,環(huán)境感知已成為汽車行業(yè)中一個(gè)新興的關(guān)鍵技術(shù)領(lǐng)域,車載攝像頭的數(shù)量、分辨率快速增加;大量數(shù)據(jù)需要高速率、高寬帶的傳輸,使得高性能車載Serdes芯片成為核心零部件之一,如下圖是自動(dòng)駕駛架構(gòu)框圖,Serdes/MIPI A-PHY承擔(dān)了自動(dòng)駕駛ADAS芯片與攝像頭之間的高速數(shù)據(jù)互聯(lián)。

圖:ADAS系統(tǒng)與攝像頭互聯(lián)示意圖

目前,從車載攝像頭到車載顯示器、ADAS域控制器、座艙域控制器等都在使用車載通信Serdes芯片,以實(shí)現(xiàn)視頻信號(hào)和實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)傳輸。

車載Serdes主流技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)概況

目前車載Serdes的標(biāo)準(zhǔn)眾多,私有協(xié)議包括TI德州儀器的FPD-Link標(biāo)準(zhǔn),ADI(美信)的GMSL,Inova Semiconductors的APIX,以及羅姆的Clockless Link等。

公開標(biāo)準(zhǔn)目前主要是3個(gè),MIPI A-PHY和ASA,以及中國的HSMT標(biāo)準(zhǔn)。

MIPI A-PHY的陣營的參與者包括寶馬、豐田、博世、電裝、采埃孚、英特爾、微軟、松下、高通等。2018年,MIPI AWG(Automotive Working Group)成立,旨在引入名為MASS(MIPI Automotive SERDES Standard)的通用通信框架鋪平道路。2021年,MIPI聯(lián)盟最近發(fā)布了MIPI A-PHY v1.0,這是第一個(gè)汽車長距離串行器/解串器(Serdes)物理層接口規(guī)范。

目前MIPI A-PHY的最新標(biāo)準(zhǔn)版本是MIPI A-PHY? v1.1.1 (May 2023)。

MIPI A-PHY CTS V1.0標(biāo)準(zhǔn)解讀

高級(jí)駕駛輔助系統(tǒng)(ADAS)的首要目標(biāo),是確保車內(nèi)駕乘人員和周邊行人的安全。只有在接收機(jī)以合格的比特誤碼率運(yùn)行時(shí),子系統(tǒng)才能正常工作。值得注意的是,接收機(jī)測(cè)試已經(jīng)納入MIPI A-PHY所涉各種相關(guān)規(guī)范的合規(guī)性測(cè)試規(guī)范(CTS)。在測(cè)試Serdes物理層(PHY)信號(hào)時(shí),了解它以什么方式發(fā)送消息,然后在另一端以什么方式接收消息至關(guān)重要?;谧钚碌腃TS v1.0,我們可以涵蓋整個(gè)物理層測(cè)試一致性測(cè)試,首先是信號(hào)完整性測(cè)試,目的是消除來自其他源頭的失真、反射、衰減和/或耦合噪聲。其次,要在更高層級(jí)驗(yàn)證被測(cè)器件(DUT)的功能以 及 PHY與 ECU之間的信號(hào)傳輸,了解信號(hào)傳輸是否劃分了正確的優(yōu)先級(jí)。最后,您需要將DUT放到一系列壓力環(huán)境中,并識(shí)別它在哪個(gè)階段發(fā)生故障,這對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試都至關(guān)重要。

Serdes/A-PHY?測(cè)試概覽與關(guān)鍵

Serdes芯片的測(cè)試,一般可以歸納為:發(fā)射機(jī)測(cè)試,接收機(jī)測(cè)試與鏈路測(cè)試3類,下面我們分別就幾類測(cè)試與關(guān)鍵的測(cè)試點(diǎn),做一個(gè)詳細(xì)的介紹。

支持的標(biāo)準(zhǔn)包括:

??MIPI A-PHY 1.0 CTS version 0.9

??ASA 1.1 CTS version 0.2

? GMSL2

Serdes/A-PHY發(fā)射機(jī)測(cè)試

Serdes/A-PHY的發(fā)射機(jī)Tx測(cè)試,主要利用示波器配合是德科技的專有軟件完成,如下圖是一個(gè)典型的差分SMA連接的發(fā)射機(jī)測(cè)試框圖。

圖:差分連接的發(fā)射機(jī)Tx測(cè)試框圖

采用UXR系列示波器作為信號(hào)接收,以得到優(yōu)異的底噪和抖動(dòng)性能,配合Keysight AE2010T 汽車 Serdes 發(fā)射機(jī)測(cè)試應(yīng)用軟件,測(cè)試時(shí)能夠自動(dòng)配置示波器,并提供詳盡的測(cè)試結(jié)果,其中包含裕量和統(tǒng)計(jì)分析結(jié)果,一般的測(cè)試項(xiàng)如下:

圖:MIPI A-PHY 1.0 CTS 第 0.9 版測(cè)試項(xiàng)

圖:ASA 1.1 CTS 第0.2版測(cè)試項(xiàng)

圖:GMSL2測(cè)試項(xiàng)

發(fā)射機(jī)測(cè)試關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn)包括:

可以執(zhí)行基于Serdes協(xié)議(含 MIPI A-PHY和 ASA)的驗(yàn)證測(cè)試,以及如下的測(cè)試項(xiàng)

? 頻率

? 失真

? 抖動(dòng)

? 壓降

? MDI回波損耗

詳細(xì)的內(nèi)容,可以參考文末的資料下載內(nèi)容,發(fā)射機(jī)測(cè)試部分。

Serdes/A-PHY接收機(jī)測(cè)試

Serdes/A-PHY的接收機(jī)Rx測(cè)試,相對(duì)比較復(fù)雜,需要借助高速任意波形發(fā)生器來完成,測(cè)試項(xiàng)也相對(duì)較多,如下是一個(gè)典型的Rx測(cè)試框圖,借助M8195A任意波形發(fā)生器,產(chǎn)生帶壓力的信號(hào),通過AE2090B夾具加噪聲,控制軟件AE2010R單獨(dú)在PC上運(yùn)行。

圖:接收機(jī)Rx測(cè)試框圖

關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn)包括:

接收機(jī)負(fù)責(zé)解碼通過鏈路發(fā)送的數(shù)據(jù),然后將其傳送給 ECU 或顯示設(shè)備做進(jìn)一步處理。接收機(jī)一旦出現(xiàn)誤碼,會(huì)導(dǎo)致來自安全關(guān)鍵型傳感器(如攝像頭、雷達(dá)激光雷達(dá))的數(shù)據(jù)丟失或損壞。

傳統(tǒng)的接收機(jī)功能越來越不適應(yīng) PAM-4 等復(fù)雜的調(diào)制方案,特別是通過長信道傳輸信號(hào)、受到多種噪聲源同時(shí)干擾的情況。為了表征接收機(jī)的性能,工程師必須測(cè)量其在受到多個(gè)噪聲源干擾時(shí)的誤碼水平,包括:

? 窄帶干擾

? 大電流注入

? 在線瞬變

? 線外串?dāng)_

測(cè)量系統(tǒng)可以包括噪聲源、放大器耦合電路,以便向有源 Serdes 鏈路注入精確的噪聲電平。接收機(jī)必須在受到噪聲干擾的情況下也能正確解釋符號(hào)。接收機(jī)測(cè)試的重點(diǎn)在于,確保接收機(jī)在受到干擾時(shí)仍能保持較低的比特誤碼率(BER)。

Serdes/A-PHY鏈路測(cè)試

Serdes的鏈路測(cè)試包括了連接器,電纜,轉(zhuǎn)接頭等的測(cè)試,通常是用網(wǎng)絡(luò)分析儀配合一系列的轉(zhuǎn)接頭等來完成,下圖是典型的Serdes傳輸通道示意圖:

圖:Serdes/MIPI A-PHY傳輸通道示意圖

可以看到,不同的ECU之間,通過高速的電纜連接,而不同廠家可以采用不同的轉(zhuǎn)接和電纜的標(biāo)準(zhǔn),鏈路測(cè)試需要全面的評(píng)測(cè)端到端的鏈路性能,符合Serdes/MIPI A-PHY的標(biāo)準(zhǔn)要求。

鏈路測(cè)試,可以采用AE2000L鏈路一致性測(cè)試系統(tǒng)來完成,可以根據(jù)需求來需求來選擇不同類型的網(wǎng)絡(luò)儀,包括高性能的ENA系列,多端口的PXI模塊以及高性價(jià)比的USB網(wǎng)絡(luò)分析儀組建測(cè)試系統(tǒng),配合AE2010L自動(dòng)化測(cè)試軟件,能夠很容易的完成鏈路測(cè)試從校準(zhǔn)到報(bào)告輸出的過程。

關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn)包括:

Serdes 鏈路的通道表征包括時(shí)域和頻域分析。工程師需要查看線纜連接系統(tǒng)、MDI、夾具和測(cè)試系統(tǒng)要求。目前還沒有針對(duì) MDI 連接器的統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn),但已經(jīng)出臺(tái)了一些嚴(yán)格的規(guī)范,這有助于減少 MDI 和電纜之間的相互作用。

我們?cè)谶M(jìn)行通道測(cè)試時(shí),需要查看是否有以下錯(cuò)誤:

? 阻抗失配

? 信號(hào)失真或缺陷

? 電纜之間的串?dāng)_

今后,我們還將為大家?guī)砀嗟臒衢T芯片測(cè)試的內(nèi)容,歡迎大家關(guān)注。

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