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一種用于半導(dǎo)體介質(zhì)的廣義熱彈性理論的全耦合系統(tǒng)(2)

06/20 10:55
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為了以有效的方式呈現(xiàn)數(shù)值結(jié)果,選擇了一種硅材料進(jìn)行數(shù)值評估,表1中列出了其以國際單位表示的參數(shù)

表1 硅的物理材料參數(shù)(以SI單位表示)

為了反演上述方程中的拉普拉斯變換。(64)-(65),我們采用了基于傅立葉級數(shù)展開的數(shù)值反演方法。52-58中列出了用于在物理域中找到解的數(shù)值反演方法。FORTRAN編程語言生成了數(shù)值代碼。MATLAB軟件具有強(qiáng)大的圖形功能,可以直觀地表示數(shù)值結(jié)果,在數(shù)值算法中保持十位數(shù)的精度。

圖?1、2、3?顯示溫度、位移和應(yīng)力的作用符合廣義熱彈性理論,該理論預(yù)測小時間的有限速度,并且行為類似于耦合理論,該理論預(yù)測大時間的無限速度。

圖1

圖2

圖3

圖1顯示了無量綱溫度的變化

對x-軸代表三個不同的時間時刻,即t=0.1,0.2和t=0.3我們觀察到,在任何固定時間,溫度分布在邊界處達(dá)到最大值,與使半空間邊界表面受到熱沖擊的熱邊界條件一致。在介質(zhì)內(nèi)部,這些值會慢慢衰減。對于小值的時間(t=0.10,say),值降至零,并且由于熱波的影響,急劇溫度降至零。這種行為與廣義熱彈性理論一致,該理論預(yù)測了短時間的有限波速。在較長的時間值(t=0.2or0.3),溫度曲線與耦合理論一致,表現(xiàn)出無限速傳播的特性。這種轉(zhuǎn)變表明,最初,熱效應(yīng)是局部的,但在更長的時間內(nèi),這些效應(yīng)會迅速擴(kuò)散到整個材料中。

圖?2?描述了無量綱位移的變化

對x-軸代表三個不同的時間時刻,即t=0.1,0.2和t=0.3我們注意到,對于任何固定的時間值,位移在邊界處記錄一個負(fù)值。該初始值表示對熱輸入的顯著機(jī)械響應(yīng)。然后,位移值隨距離增加,達(dá)到其最大正值,然后逐漸減小到零。此外,當(dāng)時間值增加時,整個域和切割的位移大小增加x-軸最近,表示機(jī)械變形速率的增加。我們繪制圖。圖3說明無量綱應(yīng)力分量的變化

與距離x在不同的時間值。最初,應(yīng)力分布在表面附近顯示出急劇的梯度,表明由于熱效應(yīng)而產(chǎn)生顯著的應(yīng)力。對于任何固定的時間值,應(yīng)力的大小從邊界處的零值增加到最大值,然后隨著距離的增加而減小,最后減小到零。在無量綱溫度分布和非有量綱應(yīng)力分布中,熱波和機(jī)械波之間的這種雙向相互作用表明,硅的熱響應(yīng)和機(jī)械響應(yīng)相互作用是多么復(fù)雜。此外,對于較小的時間值,熱波前和機(jī)械波前的位置在圖中重合。1?和?3.這證明了所提供的數(shù)值計算的準(zhǔn)確性。

圖4顯示了載流子密度的非量綱分布

對x-軸表示三個不同的時間時刻,即t=0.1,0.2和t=0.3,在邊界x=0,表面附近有高濃度的顆粒,隨著它們擴(kuò)散到硅介質(zhì)的更深處,顆粒濃度會降低。溫度升高導(dǎo)致電子從價帶到導(dǎo)帶的運(yùn)動增加,從而導(dǎo)致電導(dǎo)率的提高和電阻的降低。這種行為符合半導(dǎo)體物理學(xué)的原理,其中溫度的升高對自由電荷載流子的數(shù)量有重大影響。這種現(xiàn)象表明了溫度對載流子運(yùn)動的影響。

圖4

圖5顯示了電流載流子的非量綱分布

對x-軸表示三個不同的時間時刻,即t=0.1,0.2和t=0.3,在邊界處,表面有較大的電流載流子值,當(dāng)它們進(jìn)入介質(zhì)時,電流載流子值會減小。初始值表示電流載流子對熱激勵的迅速反應(yīng)。隨著時間的流逝,載流子更多地滲透到硅中,導(dǎo)致原始值降低,這表明載流子正在擴(kuò)散到整個材料中。

圖5

圖6顯示了無量綱電化學(xué)勢能的分布

對于不同的時間值。材料表面具有最大的勢能,隨著深入物質(zhì),勢能逐漸減小到零。觀察到的模式表明化學(xué)勢和距離呈負(fù)相關(guān)。

圖6

根據(jù)費米-狄拉克分布,化學(xué)勢(代表電子進(jìn)入系統(tǒng)所需的能量)決定了能級被占用的概率?;瘜W(xué)勢對載流子濃度有直接影響,載流子濃度由價帶中的空穴和導(dǎo)帶中的電子組成。

檢查在圖中獲得的結(jié)果的驗證。圖5和圖6,我們可以表示不同時間值的化學(xué)勢和電流載流子之間的關(guān)系(見圖1)。圖7顯示了無量綱電流載流子之間的相關(guān)性

和電化學(xué)勢能

半導(dǎo)體材料中的不同時間值下。該分布說明了電流載流子和電化學(xué)勢之間的相互依賴性,其中一種實體的變化會影響另一種實體。

圖7

基于圖8、9和10,可以看出,所展示的函數(shù)的輪廓在一段延遲時間后開始,在此期間,波到達(dá)介質(zhì)內(nèi)部的深處。

隨著x值的增加,波開始的時間較晚,并進(jìn)一步傳播到介質(zhì)中。這種現(xiàn)象與物理現(xiàn)實是一致的,因為隨著時間的推移,波進(jìn)一步滲透到介質(zhì)中,波前最終達(dá)到更大的深度。

此外,與較深的距離相比,函數(shù)的值在較短的距離(較小的x)下具有較大的幅值。圖8顯示了硅介質(zhì)內(nèi)不同深度的無量綱電流密度N(x,t)。顆粒的濃度隨著深度的增加而降低,表明存在擴(kuò)散過程。

波浪到達(dá)深度增加延遲的現(xiàn)象與波浪傳播的物理現(xiàn)象一致。類似于顆粒的擴(kuò)散,電流載流子的濃度隨著深度和持續(xù)時間的增加而減少,如圖9所示。通過觀察圖8和圖9,很明顯,隨著載流子通過擴(kuò)散擴(kuò)散擴(kuò)散到介質(zhì)中,邊界表面上的高濃度減小。這種分布支持半導(dǎo)體中電荷載流子動力學(xué)的理論模型,其中熱刺激導(dǎo)致載流子向更深區(qū)域的漸進(jìn)運(yùn)動。

圖8

圖9

圖10

圖10表明,電化學(xué)勢能的分布隨時間增長,表明電化學(xué)勢能在介質(zhì)內(nèi)部逐漸積累。隨著介質(zhì)深度的增加,電化學(xué)勢能減小。這種行為可以歸因于擴(kuò)散和傳輸機(jī)制,其中分布由勢能梯度驅(qū)動并最終達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。

粒子擴(kuò)散弛豫時間?:對當(dāng)前載體的意義和影響

在理想的情況下,流經(jīng)半導(dǎo)體的載流子應(yīng)該具有連續(xù)的功能。這一假設(shè)簡化了理論模型和電路分析,使我們能夠應(yīng)用歐姆定律基爾霍夫定律等公認(rèn)的原理。然而,在某些實際情況下,當(dāng)前載波可能出現(xiàn)不連續(xù)或包含快速轉(zhuǎn)換。這種情況源于建模假設(shè)的固有限制、制造缺陷或先進(jìn)電子系統(tǒng)中發(fā)生的復(fù)雜交互。因此,在我們的模型中,有必要解決理論模型在解釋這一現(xiàn)象時的局限性。因此,需要修改歐姆定律,如等式(34)所述。為了根據(jù)顆粒擴(kuò)散弛豫時間的不同值來研究這種改性的效果,視頻S1顯示介質(zhì)內(nèi)部的電流載流子分布I(x,t),其在0到0.2之間變化。我們注意到,對于=0,電流載流子表現(xiàn)為與理論模型一致的光滑連續(xù)函數(shù)。然而,對于>0,電流載流子在波前位置的值發(fā)生突然跳躍,這隨著的增加而變得更加明顯。這涵蓋了幾種實驗情況,其中是一個任意常數(shù),根據(jù)不同的物理環(huán)境取特殊值。

與許多早期模型相比,驗證我們的數(shù)學(xué)模型。

在本節(jié)中,我們將介紹一個基于特定數(shù)學(xué)參數(shù)的廣義數(shù)學(xué)模型

我們可以使用這個模型來推導(dǎo)每個早期的模型,作為特例,包含在表2中。建議的控制方程如下:

其中

是彈性耦合因子。

表2 建議模型與先前模型的極限情況。

通過代入前面方程(43)中的無量綱變量,我們得到

其中

我們在“問題的公式化”一節(jié)中使用相同的方法獲得了以前各種模型的解決方案,但為了避免擴(kuò)大文章的篇幅,我們在這里不介紹它們。表3、表4、表5對于驗證我們模型的精度至關(guān)重要。它們使我們能夠通過檢查不同位置(x)和兩個時刻(t=0.05,t=0.10)的無量綱溫度、應(yīng)力和電流載流子分布,將我們的模型(I)與其他模型(II,III)進(jìn)行比較。這些比較強(qiáng)調(diào)了模型準(zhǔn)確預(yù)測溫度和應(yīng)力行為的能力。

表3 不同位置的無量綱溫度分布(x)和兩個瞬間時間(t=0.05,t=0.10)

表4

表5

圖11、圖12表示無量綱物理變量場的上述不同模型(模型I,黑線)、(模型II,藍(lán)線)和(模型III,紅線)之間的比較,即無量綱溫度分布(見圖11a、圖11b)、無量綱應(yīng)力分布(見圖圖11c、圖11d)、無因次位移(見圖12a、圖12b)和無量綱粒子數(shù)(如圖12c、圖12d)。在這些圖中,標(biāo)記(a)和(c)表示小時間(t=0.05)的情況,而由(b)和(d)標(biāo)記的標(biāo)記表示大時間(t=1)的情況。廣義模型III的無量綱弛豫參數(shù)取為==0.02,而我們的模型I的這些值為=0.02,=0.01。

圖11

圖12

從這些數(shù)字中,我們注意到

在我們的模型中,小時間值的溫度分布具有有限的速度,而其他模型預(yù)測的是無限速度,并且波前位置出現(xiàn)在x=0.35這一優(yōu)勢使我們的模型與眾不同,而其他兩個模型的行為類似于熱彈性的耦合理論。因此,我們的模型消除了其他兩個模型中的悖論。對于較大的時間值,所有模型的溫度分布都是相同的。

對于所有模型,法向應(yīng)力分量在任何時候都具有相同的機(jī)械波前位置,而熱波前位置僅在我們的模型中出現(xiàn)很短的時間。所有型號在拉伸區(qū)域略有差異,而在壓縮區(qū)域則更為突出。

位移分量u在小時間的情況下,所有模型之間的分布變化很小,而在大時間的情況下,分布變化明顯。

粒子分布的數(shù)量N在我們的模型中,記錄的值比其他模型小,并且迅速衰減為零。

我們模型中的所有函數(shù)場的值都小于其他模型,并且在半導(dǎo)體介質(zhì)中衰減迅速。

結(jié)論

這項研究提出了一個創(chuàng)新的數(shù)學(xué)框架,用于研究半導(dǎo)體彈性材料在外部磁場下的特性。主要目標(biāo)是提供一個全面的數(shù)學(xué)模型,包括半導(dǎo)體材料中等離子體、熱波和彈性波的相互作用。半導(dǎo)體的數(shù)學(xué)建?,F(xiàn)在包括電化學(xué)電勢的積分,這標(biāo)志著一個重大的發(fā)展。半導(dǎo)體中的電化學(xué)電勢至關(guān)重要,因為它控制著載流子的行為和濃度,從而直接影響二極管晶體管半導(dǎo)體器件的性能和功能。此外,它還建立了平衡條件和傳輸現(xiàn)象,這對理解和設(shè)計半導(dǎo)體材料和器件至關(guān)重要。

數(shù)據(jù)可用性

本研究期間生成或分析的所有數(shù)據(jù)都包含在這篇已發(fā)表的文章中。

縮寫

:導(dǎo)帶和價帶之間變形勢的差異

:線性熱膨脹系數(shù)

:磁感應(yīng)

:彈性常數(shù)張量

:恒定應(yīng)變下的比熱

:載流子擴(kuò)散系數(shù)

:施加的外部電場

:應(yīng)變張量的分量

:立方體擴(kuò)張

:半導(dǎo)體的能隙

:單位質(zhì)量的外力分量

洛倫茲力

:每單位電荷的載波照片生成源

:外部施加磁場

:感應(yīng)磁場

:電流載流子密度矢量

:導(dǎo)熱系數(shù)

:林氏常數(shù)

:電化學(xué)勢能

磁導(dǎo)率

:時間t的載流子密度

:平衡時的載流子密度

:向外到表面A的法向單位向量的分量

:亥姆霍茲自由能函數(shù)

:熱通量矢量

:粒子的電荷

:單位質(zhì)量外部熱源的強(qiáng)度

:介質(zhì)的獨立時間密度

:單位質(zhì)量熵

:應(yīng)力張量的分量

:電導(dǎo)率

:絕對溫度

:材料在平衡狀態(tài)下的溫度

:熱弛豫時間

:電子-空穴復(fù)合時間

:時間

:單位質(zhì)量的內(nèi)能

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