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電子零部件及電子電氣設備是非常復雜的系統(tǒng)，其制造過程中的缺陷和成品失效也是不盡相同的。以電子元器件為例，其失效機理可以分為兩類：過應力和磨損。過應力失效往往是瞬時的、災難性的；而磨損失效是長期的累積損壞，往往首先表示為性能退化，接著才是器件失效。失效的負載類型又可以分為機械、熱、電氣、輻射和化學負載等。影響缺陷和失效的因素多種多樣， 包括材料成分、材料屬性、封裝設計、環(huán)境條件和工藝參數(shù)等。當產(chǎn)品存在失效風險時，對于生產(chǎn)廠商來說，尤其是那些終端應用是對可靠性有極高要求的領域，越早查明缺陷的根源，所能避免的損失和麻煩就越明顯。 ZESTRON R&S源自德國，領先全球，在解決表面污染、失效分析和預防及提升可靠性等專業(yè)領域擁有經(jīng)驗豐富的國際化團隊，廣泛服務于汽車、醫(yī)療、工業(yè)、航空和消費電子等領域，為整個電子產(chǎn)業(yè)提供培訓、咨詢和失效分析等服務。
ZESTRON R&S采用的技術手段包括但不限于：高清數(shù)碼顯微鏡目檢、離子色譜法 IC、離子污染度測試 ROSE、傅里葉變換紅外光譜法 FTIR、涂覆可靠性測試 CoRe test、顆粒物測定/技術清潔度 Technical Cleanliness、掃描電子顯微鏡/X射線能譜分析儀 SEM/EDS、X射線光電子能譜 XPS、俄歇電子能譜 AES、涂覆層測試 Coating Layer Test、助焊劑/樹脂測試 Flux/Resin Test 、接觸角測量 Contact Angle、表面絕緣電阻測量 SIR、差熱分析 DTA等。目前ZESTRON R&S已幫助全球知名制造廠商圓滿完成了上百例失效分析及技術輔導服務。
ZESTRON R&S 部門經(jīng)理王克同先生目前負責管理ZESTRON北亞區(qū)分析中心業(yè)務。王經(jīng)理擁有超過16年電子行業(yè)的工作經(jīng)驗，曾在全球知名的PCB和EMS企業(yè)內(nèi)歷任失效分析和質(zhì)量管理經(jīng)理。
