[摘要]
LED測試在生產(chǎn)的不同階段具有不同類型的測試序列,例如設(shè)計研發(fā)階段的測試、生產(chǎn)過程中的晶圓級測試、以及封裝后的最終測試。盡管LED的測試一般包含電氣和光學(xué)測量,本文著重探討電氣特征分析,只在適當(dāng)?shù)奈恢媒榻B部分光學(xué)測量技術(shù)。圖1給出了典型二極管的電氣I-V曲線。完整的測試應(yīng)該包含大量 的電壓值與對應(yīng)的電流工作點,但是一般情況下有限的采樣點就足以測試出器件的品質(zhì)因數(shù)。
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資源大?。?/span>196.79KB
所屬分類:I-V測試與特性分析/數(shù)字源表
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