[摘要]
CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機”)電源電流用于驗證生產測試質量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測量VDD電源電流。測試的目的是檢查柵氧化層短路及可能隨時間導致IC失效的其它缺陷。同樣地,帶有雙極晶體管的電池供電產品或其它IC的電源電流也可以在靜態(tài)模式下測量。這些產品類型包括便攜式電池供電的消費性電子產品,以及可植入的醫(yī)療設備,例如心臟起搏器和除顫器。這些測試的目標是在給定電池充電電平和工作質量條件下確保產品滿足消費者對更長工作時間的要求。測試必須盡快完成以確保吞吐量符合要求,而且測試必須全面以確保產品質量。本應用筆記介紹了如何用吉時利最新的2600系列源表實現上述測試。
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所屬分類:I-V測試與特性分析/數字源表
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