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[摘要]
對于 PCB 設(shè)計工程師和小型團隊而言,解決SI(信號完整性)和EMI(電磁干擾)問題是一項每天都要面對的挑戰(zhàn)。通過使用設(shè)計規(guī)則檢查 (DRC),避免輻射測試失敗或信號完整性相關(guān)故障等最終產(chǎn)品問題。本白皮書回顧了 SI/EMI 挑戰(zhàn)的