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通過(guò)自動(dòng)插入過(guò)孔減少IR 和 EM 問(wèn)題
[摘要]

IR 壓降和 EM 問(wèn)題會(huì)大幅減損先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)的性能和可靠性。添加過(guò)孔是最有效的校正手段，但傳統(tǒng)的自定義腳本不僅困難、耗時(shí)，而且無(wú)法保證設(shè)計(jì)即正確的過(guò)孔。Calibre YieldEnhancer PowerVia 實(shí)用工具使用制造要求自動(dòng)插入無(wú)任何 DRC/LVS 錯(cuò)誤的過(guò)孔。結(jié)果顯示，EM/IR 結(jié)果得到顯著改善，包括電流密度違規(guī)大幅減少。
資源類型：pdf
資源大?。?/span>578.62KB
所屬分類：白皮書(shū)
Siemens Digital Industries Software簡(jiǎn)介
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