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同步檢波器可提取淹沒在噪底內的小信號,用于進行各種物理量測量,例如極小的電阻、明亮背景下的光吸收或反射量,或者存在于高噪聲電平下的應變。
在很多系統(tǒng)中,隨著頻率趨近于零,噪聲會不斷增加。例如,運算放大器具有1/f 噪聲,而光學測量易受因環(huán)境光條件變化而產生的噪聲影響。在遠離低頻噪聲處進行的測量可提高信噪比,從而可檢測到較弱信號。例如,將光源調制到幾千赫茲有助于測量原本會淹沒在噪底內的反射光。圖1 顯示了調制技術如何恢復原本低于噪底的信號。
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